半导体测试电源是为测试半导体器件在各种环境条件下能*实现设计规格书所规定的功能及性能指标设计的电源。可进行开路/短路测试、输出驱动电流测试、漏电电源测试、转换电平测试、立保持时间测试，功能速度测试、建立保持时间测试，功能速度测试、功能速度测试等等。中国台湾洛仪半导体测试电源系列具有动态响应可控、电压和电流变化斜率高且可设定、稳定性高、易于集成和操作、低纹波和噪声、灵活的功率调整输出等特点，为测试产品提供真实有效的依据与保证。适用于二极管、LED、功率半导体元件测试或汽车电子、铅酸电池或锂离子电池测试等领域。
半导体测试电源特点：
动态响应可控；
电压和电流变化斜率高且可设定；
灵活的功率调整输出；
采用FPGA数字化控制技术，整体模块化设计，稳定性更好，可靠性更高；
采用新型线路设计，低纹波、低噪声、高稳定性、无高频干扰信号；
使用*直接数字合成（DDS）波形产生技术，频率稳定性高，连续性好；
按键加飞梭编码器调节输出参数，可以做到微调与快速输入调节，操作更便捷；
多种操作模式编程输出，可实现模拟各种复杂的用电环境；
各种保护功能（OVP，OCP，OPP，OTP及编程保护）；
支持上位机操作功能，配有上位机软件及外部通讯接口；
优化性系统散热，可使设备长时间运行并保证数据的稳定性；
大屏幕液晶显示器、可显示参数、状态及报警等全麺的数据；
大功率、快响应、数字化；
数字控制器+PLC+工业PC；
模块化、单元化组建结构。