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日本日立扫描探针显微镜控制器概述
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面,标准配备参数自动设置功能(RealTune® II),即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时,也能快速获得准确的测量数据。
日本日立扫描探针显微镜控制器特点
1. RealTune® II 樶新的参数自动设置功能
【实例1】纤维状的碳纳米管结构体(壁虎胶带)
【样品提供:日东电工股份公司】
以往的方法这些样品需要对参数进行精细的调整,操作难度很高,并且柔软的纤维易变形产生皱痕。
新处理方法
自动设置成合适的条件,可在复杂的纤维结构不变形的情况下进行精zhun测量。
【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜(并五苯多结晶薄膜)
【样品提供:神户大学北村研究室】
以往的方法这种样品,表面容易损坏,易产生皱痕、台阶的轮廓也不明显。
新处理方法
自动设置成合适的条件,稳定地测量分子级别上的台阶结构。
2. 全新的图标用户界面(Graphical Use Interface)
简单的菜单设置
3. 3D覆盖功能
能够将样品形貌及物理特性叠加显示,并能构画出3D画面,可以通过视觉感受表示样品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能
配备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样的分析功能。
5. 小型化设计
轻便的小型化外形,适合各种场地摆放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
能够将样品形貌及物理特性叠加显示,并能构画出3D画面,可以通过视觉感受表示样品的物理特性。